磁粉探傷試験（MT：Magnetic Particle Testing）

磁粉探傷試験（MT：Magnetic Particle Testing）は金属表面に電磁石を当てて、金属表面に磁界を発生させることできずを見つける手法です。

浸透探傷試験と同様に金属表面のきずを検出することを目的としていますが、浸透探傷試験とは異なり表面に開口していない表面近傍のきずも見つける事が可能です。一般的に浸透探傷試験に比べてきずの検出精度が高い事も大きな特徴となります。

しかし、磁化できない非磁性体の材料 (ステンレス、アルミニウムなど) には適用できません。